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可自动测量超薄镀层厚度和进行痕量分析 FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪。 它特别适用于无损分析超薄镀层，痕量分析，并可完成自动测量。 为了使每次测量都能在最理想的条件下进行，XDV-SDD配备了可调节选择的准直器及基本滤片。 现代化的硅漂移接收器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。 由于有了大尺寸的准直器以及超高速脉冲处理器，仪器能处理非常高的计数率。 XDV-SDD型X射线光谱仪有着出色的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。 由于使用了基本参数法，无论是固体的镀层系统还是液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。 最多可同时测量从铝(13)到铀(92)的24种元素。 FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®光谱仪装备了高精度，可编程的X/Y平台和电力驱动的Z轴升降台，因而十分适用于自动测量分析超薄镀层或是痕量分析。
货号：61519441 型号：XDV®-SDD 通用规范 用途： 1.能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，用来测量超薄镀层、微小结构，合金元素的痕量分析。 2.可测量元素范围：可同时测量从铝(13)到铀(92)中的24种元素 设计理念： 1.顶罩向上开启的桌上系统，侧面开槽设计 2.电驱动可编程的X/Y平台和Z轴升降台 3.马达驱动，可更改的准直器和基本滤片 4.定位样品的视频窗口及激光光点 测量方向：从上往下 X射线源： X射线源：铍窗口的微聚焦油箱 高压：3种可调高压10kV, 30kV, 50kV 孔径（准直器）： 1.4个可切换准直器：圆形φ0.2mm；φ0.6mm；φ1mm；φ3mm 2.可按要求定制其它规格和组合 基本滤波片：6个可切换的基本滤片 镍；无；铝1000μm；铝500μm；铝100μm；密拉®100μm 测量点大小: 取决于测量距离和孔径大小，测试中的约比孔径值大10%，实际的测量区域大小与视频 窗口中显示的相一致，最小的测量点大小约为φ0.15mm。 测量距离，如样品为腔体时: 1. 0~20mm, 校准范围，使用专利保护的DCM功能 2.20~80mm, 非校准范围，使用专利保护的DCM功能
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