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波形曲线分析解决方案在 2400 系列图形化 SMU 上安装 I-V 记录器软件,在功能上替换 Tektronix 576 或 370 等传统波形记录器。无需配置扫描或连接到其他软件,即可快速探寻两端器件的特征。 制造大功率开关5G、汽车和替代能源市场对更高效高压半导体的需求促使对 SiC 和 GaN 等新技术的测试和研究日益复杂。您的测试设备需要发展以跟上步伐。 2470 SMU 在击穿电压、泄漏电流、隔离测试、耐压和介电耐压测试等测量方面增加了多项功能,可让您更快地了解情况。 使测量登上全新高度SMU 仪器可捕获更详细的设备行为,并在扩展范围内检定设备,因此您能更好地了解设备,提高其质量,改善其性能。 测试高亮度 LED 特点
直观 UI。 智能且快速。在直观、多点触控用户界面上能测量、查看和发现更多细节,从原始读数到直方图,再到基于时间和基于电压/电流的波形,并且能更快速地获得答案。 特点
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