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规格：Ag、Au、Cu、Ni、Pd、Sn、Ti、Zn 技术要求：Urel = 5% (k = 2) 美国CAL标准片，CALMETRIC标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，CAL校正片，又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪 (进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。 1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制. 2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等. 3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等. 4.测量厚度范围：0.01~300μm. Calmetrics镀层标准片（测厚仪标准片） 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片：专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。 即标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线，之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。 对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 品牌：Top和Calmetrics Top 产地：澳洲 中国区总代理 Calmetrics 产地：美国 国内代理商 特点：镀层标准片质量精良，精度高、X-Ray仪器专用标准片。 两种品牌的标片都分为一体式与薄片式： 一体式标样又分单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。 例如：单镀层：Ag/Cu，双镀层：Au/Ni/Cu， 三镀层：Au/Ni/Cu/Fe，合金镀层：Zn-Ni/Fe， 化学镀层：Ni-P/Fe。（所有标准片都附有证书） 1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等。 2.镀层标准片（一体式）：单镀层：Ag/Cu，双镀层：Au/Ni/Cu， 三镀层：Au/Ni/Cu/Fe，合金镀层：Zn-Ni/Fe， 化学镀层：Ni-P/Fe等。 3.合金标准片（薄片式）：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等。 4.测量厚度范围：0.01-120μm
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